| Kurzbeschreibung | Das Hauptlernziel des Kurses ist, dass die Studierenden selbständig eine geeignete Charaktersierungsmethode wählen können, um ein spezifisches materialwissenschaftliches Problem lösen zu können. Folgende Methoden werden dabei behandelt: Licht-, Rasterkraft- und Elektronenmikroskopie, Beugungsmethoden (Röntgen, Neutronen, Elektronen) und Atomsondentomographie. Vorlesungen und Praktika in D oder E. |
| Lernziel | - Erklären der Grundkonzepte von elementaren und fortgeschrittenen Materialcharakterisierungsmethoden im Bereich der Mikroskopie und Beugung.
- Indentifizieren und lösen von praktischen Problemen mittels der Anwendung ausgwählter Chrakterisierungsmethoden basierend auf entsprechenden Labor-Praktika.
- Imstande sein, Laien zu beraten warum, wie und wann diese Methoden eingesetzt werden können, um welche Information zu gewinnen und auf mögliche Probleme und Beschränkungen der Messmethoden aufmerksam zu machen. |
| Inhalt | Im ersten Teil des Semesters werden von verschiedenen Dozenten die Grundlagen von oben erwähnten Materialcharakterisierungsmethoden eingeführt. Dies ist der Vorlesungsteil des Kurses. Im zweiten Teil des Semesters werden die Studierenden, in verschiedenen Gruppen eingeteilt, in Laborpraktika ausgewählte Methoden anwenden. Diese Praktika sind der zentrale Teil dieses Kurses, wo die Studierenden mit praktischen Problemen und den Beschränkungen der einzelnen Methoden konfrontiert werden und selbständig in den Gruppen Lösungen erarbeiten müssen. Speziell: es werden auch Laborpraktika an den Neutronen- und Synchrotron Röntgen Einrichtungen am Paul Scherrer Institut angeboten, die halb- und ganztägig nach dem Semesterende stattfinden werden. |
| Skript | - Folien der Vorlesungen (in Englisch) werden elektronisch verteilt.
- Je nach Praktikum, werden zusätzliche Dokumente zur Verfügung gestellt.
- In Laborjournalen sind die Studierenden aufgefort ihre eigene Dokumentation der Laborkurse zu verfassen. |
| Literatur | - B. Fultz, J. Howe, Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials, 2nd ed., Springer, 2009.
- P. Willmott, An Introduction to Synchrotron Radiation: Techniques and Applications, Wiley, 2011. |
| Voraussetzungen / Besonderes | Materialcharakterisierung I |
Kompetenzen | | Fachspezifische Kompetenzen | Konzepte und Theorien | geprüft | | Verfahren und Technologien | geprüft | | Methodenspezifische Kompetenzen | Analytische Kompetenzen | gefördert | | Entscheidungsfindung | geprüft | | Medien und digitale Technologien | gefördert | | Problemlösung | geprüft | | Projektmanagement | gefördert | | Soziale Kompetenzen | Kommunikation | geprüft | | Kooperation und Teamarbeit | geprüft | | Kundenorientierung | gefördert | | Menschenführung und Verantwortung | gefördert | | Selbstdarstellung und soziale Einflussnahme | gefördert | | Sensibilität für Vielfalt | gefördert | | Verhandlung | gefördert | | Persönliche Kompetenzen | Anpassung und Flexibilität | gefördert | | Kreatives Denken | geprüft | | Kritisches Denken | geprüft | | Integrität und Arbeitsethik | gefördert | | Selbstbewusstsein und Selbstreflexion | gefördert | | Selbststeuerung und Selbstmanagement | geprüft |
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Leistungskontrolle als Semesterkurs