151-0628-00L Scanning Probe Microscopy Lab
| Semester | Frühjahrssemester 2021 |
| Dozierende | A. Stemmer |
| Periodizität | jährlich wiederkehrende Veranstaltung |
| Lehrsprache | Englisch |
| Kommentar | Limited number of participants. Please address your application to Andreas Stemmer (astemmer@ethz.ch). Simultaneous enrolment in 151-0622-00L Measuring on the Nanometer Scale is required. |
| Information zur Leistungskontrolle (gültig bis die Lerneinheit neu gelesen wird) | |
Leistungskontrolle als Semesterkurs | |
| ECTS Kreditpunkte | 2 KP |
| Prüfende | A. Stemmer |
| Form | benotete Semesterleistung |
| Prüfungssprache | Englisch |
| Repetition | Repetition ohne erneute Belegung der Lerneinheit möglich. |
| Zusatzinformation zum Prüfungsmodus | Credit points can only be earned if the candidate (i) actively takes part in the entire course, (ii) turns in a final report, and (iii) obtains at least grade 4. The grade reflects the performance of each participant and is based on (1) effort/ participation (30%), (2) skills shown during the course (30%), and (3) quality of the report (40%). |