327-2126-00L Microscopy Training TEM I - Introduction to TEM
Semester | Frühjahrssemester 2020 |
Dozierende | P. Zeng, E. J. Barthazy Meier, A. G. Bittermann, F. Gramm, A. Sologubenko, M. Willinger |
Periodizität | jedes Semester wiederkehrende Veranstaltung |
Lehrsprache | Englisch |
Kommentar | Number of participants limited to 6. Master students will have priority over PhD students. PhD students may still enroll, but will be asked for a fee (Link). TEM 1 registration form: (Link) |
Information zur Leistungskontrolle (gültig bis die Lerneinheit neu gelesen wird) | |
Leistungskontrolle als Semesterkurs | |
ECTS Kreditpunkte | 2 KP |
Prüfende | P. Zeng, E. J. Barthazy Meier, A. G. Bittermann, F. Gramm, A. Sologubenko, M. Willinger |
Form | unbenotete Semesterleistung |
Prüfungssprache | Englisch |
Repetition | Repetition nur nach erneuter Belegung der Lerneinheit möglich. |
Zusatzinformation zum Prüfungsmodus | Oral presentation and discussion about the TEM/STEM images and results obtained during the course. |