151-0172-00L  Microsystems II: Devices and Applications

SemesterFrühjahrssemester 2018
DozierendeC. Hierold, C. I. Roman
Periodizitätjährlich wiederkehrende Veranstaltung

Information zur Leistungskontrolle (gültig bis die Lerneinheit neu gelesen wird)
Leistungskontrolle als Semesterkurs
ECTS Kreditpunkte6 KP
PrüfendeC. Hierold, C. I. Roman
RepetitionDie Leistungskontrolle wird in jeder Session angeboten. Die Repetition ist ohne erneute Belegung der Lerneinheit möglich.
Prüfungsmodusmündlich 20 Minuten
Zusatzinformation zum PrüfungsmodusStudents registered for the Devices and Systems (D&S) course can participate voluntarily in a midterm exam, which may improve the final grade of the D&S oral exam. This midterm 1 hour exam is written and graded and will contain assignments/problems from the selected parts of D&S lectures and tutorials presented until the day of the examination. Obtaining 90-100% of points at the midterm exam will improve the student¿s final grade by max. 0.5 grades, while obtaining 75-90% of points will improve the student¿s final grade by max. 0.25 grades. The maximum grade (6.0) can also be achieved exclusively by the oral exam performance itself independent of the bonus from the midterm exam. The date and time of the midterm exam will be announced by the lecturer. No auxiliary means are allowed. Any behavior during the exam which violates the ETH ethical code will result in both the loss of bonus points but also the application of standard disciplinary measures.
Diese Angaben können noch zu Semesterbeginn aktualisiert werden; verbindlich sind die Angaben auf dem Prüfungsplan.