327-2128-00L High Resolution Transmission Electron Microscopy
| Semester | Frühjahrssemester 2018 |
| Dozierende | A. Sologubenko, R. Erni, R. Schäublin |
| Periodizität | jährlich wiederkehrende Veranstaltung |
| Lehrsprache | Englisch |
Lehrveranstaltungen
| Nummer | Titel | Umfang | Dozierende | |||||||||||||
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| 327-2128-00 G | High Resolution Transmission Electron Microscopy
 This block course will take place from 28.05.-01.06.2018 (on 31.05. at Empa). Students who wish to obtain ECTS points need to participate at additional hands-on sessions at ScopeM and EMPA (limited to 12 students). A separate registration is necessary: Link | 40s Std. |
| A. Sologubenko, R. Erni, R. Schäublin |
Katalogdaten
| Kurzbeschreibung | Dieser Fortgeschrittenenkurs für hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie (HRTEM) bietet Vorlesungen, die sich auf HRTEM- und HRSTEM-Bildgebungsprinzipien, die zugehörige Datenanalyse und Simulation, sowie Phasenwiederherstellungsmethoden konzentrieren. |
| Lernziel | - Learning how HRTEM and HRSTEM images are obtained. - Learning about the aberrations affecting the resolution in TEM and STEM and the different methods to correct them. - Learning about TEM and STEM images simulation software. - Performing TEM and STEM image analysis (processing of TEM images and phase restoration after focal series acquisitions). |
| Inhalt | This course provides new skills to students with previous TEM experience. At the end of the course, students will know how to obtain HR(S)TEM images, how to analyse, process and simulate them. Topics: 1. Introduction to HRTEM and HRSTEM 2. Considerations on (S)TEM instrumentation for high resolution imaging 3. Lectures on aberrations, aberration correction and aberration corrected images 4. HRTEM and HRSTEM simulation 5. Data analysis, phase restoration and lattice-strain analysis |
| Literatur | - Detailed course manual - Williams, Carter: Transmission Electron Microscopy, 2nd ed., Springer, 2009 - Williams, Carter (eds.), Transmission Electron Microscopy - Diffraction, Imaging, and Spectrometry, Springer 2016 - Erni, Aberration-corrected imaging in transmission electron microscopy, 2nd ed., Imperial College Press, 2015. - Egerton: Physical Principles of Electron Microscopy: an introduction to TEM, SEM and AEM, Springer Verlag, 2007 |
| Voraussetzungen / Besonderes | The students should fulfil one or more of these prerequisites: - Prior attendance to the ScopeM TEM basic course - Prior attendance to ETH EM lectures (327-0703-00L Electron Microscopy in Material Science) - Prior TEM experience |
Leistungskontrolle
| Information zur Leistungskontrolle (gültig bis die Lerneinheit neu gelesen wird) | |
Leistungskontrolle als Semesterkurs | |
| ECTS Kreditpunkte | 2 KP |
| Prüfende | A. Sologubenko, R. Erni, R. Schäublin |
| Form | unbenotete Semesterleistung |
| Prüfungssprache | Englisch |
| Repetition | Repetition nur nach erneuter Belegung der Lerneinheit möglich. |
| Zusatzinformation zum Prüfungsmodus | oral presentation |
Lernmaterialien
| Keine öffentlichen Lernmaterialien verfügbar. | |
| Es werden nur die öffentlichen Lernmaterialien aufgeführt. |
Gruppen
| Keine Informationen zu Gruppen vorhanden. |
Einschränkungen
| Allgemein |  : Für Fachstudierende und Hörer/-innen ist eine Spezialbewilligung der Dozierenden notwendig |
| Plätze | Plätze beschränkt. Spezielles Auswahlverfahren. |
| Warteliste | Bis 25.05.2018 |
| Belegungsende | Belegung nur bis 18.05.2018 möglich |
Angeboten in
| Studiengang | Bereich | Typ | |
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| Doktorat Departement Materialwissenschaft | Lehrangebot Doktorat und Postdoktorat | W |  |