151-0628-00L  Scanning Probe Microscopy Lab

SemesterFrühjahrssemester 2013
DozierendeA. Stemmer
Periodizitätjährlich wiederkehrende Veranstaltung
LehrspracheEnglisch
KommentarSimultaneous enrolment in 151-0622-00L Measuring on the Nanometer Scale is required.


Allgemein : Für Fachstudierende und Hörer/-innen ist eine Spezialbewilligung der Dozierenden notwendig
Bewilligung der Dozierenden für alle Studierenden notwendig