327-2128-00L  High Resolution Transmission Electron Microscopy

SemesterHerbstsemester 2023
DozierendeR. Erni
Periodizitätjedes Semester wiederkehrende Veranstaltung
LehrveranstaltungFindet dieses Semester nicht statt.
LehrspracheEnglisch
KommentarLimited number of participants.
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Registration form: Link



Lehrveranstaltungen

NummerTitelUmfangDozierende
327-2128-00 GHigh Resolution Transmission Electron Microscopy Für Fachstudierende und Hörer/-innen ist eine Spezialbewilligung der Dozierenden notwendig.
Findet dieses Semester nicht statt.
This blockcourse won't take place in HS23. Next planned semester: FS24.
40s Std.R. Erni

Katalogdaten

KurzbeschreibungDieser Fortgeschrittenenkurs für hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie (HRTEM) bietet Vorlesungen, die sich auf HRTEM- und HRSTEM-Bildgebungsprinzipien, die zugehörige Datenanalyse und Simulation, sowie Phasenwiederherstellungsmethoden konzentrieren.
Lernziel- Learning how HRTEM and HRSTEM images are obtained.
- Learning about the aberrations affecting the resolution in TEM and STEM and the different methods to correct them.
- Learning about TEM and STEM images simulation software.
- Performing TEM and STEM image analysis (processing of TEM images and phase restoration after focal series acquisitions).
InhaltThis course provides new skills to students with previous TEM experience. At the end of the course, students will know how to obtain HR(S)TEM images, how to analyse, process and simulate them.

Topics:
1. Introduction to HRTEM and HRSTEM
2. Considerations on (S)TEM instrumentation for high resolution imaging
3. Lectures on aberrations, aberration correction and aberration corrected images
4. HRTEM and HRSTEM simulation
5. Data analysis, phase restoration and lattice-strain analysis
Literatur- Detailed course manual
- Williams, Carter: Transmission Electron Microscopy, 2nd ed., Springer, 2009
- Williams, Carter (eds.), Transmission Electron Microscopy - Diffraction, Imaging, and Spectrometry, Springer 2016
- Erni, Aberration-corrected imaging in transmission electron microscopy, 2nd ed., Imperial College Press, 2015.
- Egerton: Physical Principles of Electron Microscopy: an introduction to TEM, SEM and AEM, Springer Verlag, 2007
Voraussetzungen / BesonderesThe students should fulfil one or more of these prerequisites:
- Prior attendance to the ScopeM TEM basic course
- Prior attendance to ETH EM lectures (327-0703-00L Electron Microscopy in Material Science)
- Prior TEM experience

Leistungskontrolle

Information zur Leistungskontrolle (gültig bis die Lerneinheit neu gelesen wird)
Leistungskontrolle als Semesterkurs
ECTS Kreditpunkte2 KP
PrüfendeA. Sologubenko, R. Erni, R. Schäublin, P. Zeng
Formunbenotete Semesterleistung
PrüfungsspracheEnglisch
RepetitionRepetition nur nach erneuter Belegung der Lerneinheit möglich.
Zusatzinformation zum Prüfungsmodusoral presentation

Lernmaterialien

Keine öffentlichen Lernmaterialien verfügbar.
Es werden nur die öffentlichen Lernmaterialien aufgeführt.

Gruppen

Keine Informationen zu Gruppen vorhanden.

Einschränkungen

Allgemein : Für Fachstudierende und Hörer/-innen ist eine Spezialbewilligung der Dozierenden notwendig
PlätzePlätze beschränkt. Spezielles Auswahlverfahren.
WartelisteBis 08.12.2023
BelegungsendeBelegung nur bis 07.11.2023 möglich

Angeboten in

StudiengangBereichTyp
Materialwissenschaft MasterWahlfächerWInformation