327-2140-00L Focused Ion Beam and Applications
| Semester | Frühjahrssemester 2022 |
| Dozierende | P. Zeng, A. G. Bittermann, S. Gerstl, L. Grafulha Morales, J. Reuteler |
| Periodizität | jedes Semester wiederkehrende Veranstaltung |
| Lehrsprache | Englisch |
| Kommentar | Number of participants limited to 6. PhD students will be asked for a fee. https://scopem.ethz.ch/education/MTP.html Registration form: (Link) |
Lehrveranstaltungen
| Nummer | Titel | Umfang | Dozierende | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 327-2140-00 P | Focused Ion Beam and Applications
 This three-days block course will take place from May 30 - June 1, 2022 (9am-5pm) in the seminar room and rooms of ScopeM. | 21s Std. |
| P. Zeng, A. G. Bittermann, S. Gerstl, L. Grafulha Morales, J. Reuteler |
Katalogdaten
| Kurzbeschreibung | The introductory course on Focused Ion Beam (FIB) provides theoretical and hands-on learning for new operators, utilizing lectures, demonstrations and hands-on sessions. |
| Lernziel | - Set-up, align and operate a FIB-SEM successfully and safely. - Accomplish operation tasks and optimize microscope performances. - Perform sample preparation (TEM lamella, APT probe…) using FIB-SEM. - Perform other FIB techniques, such as characterization - At the end of the course, students will know how to set-up FIB-SEM, how to prepare TEM lamella/APT probe and how to utilize FIB techniques. |
| Inhalt | This course provides FIB techniques to students with previous SEM experience. - Overview of FIB theory, instrumentation, operation and applications. - Introduction and discussion on FIB and instrumentation. - Lectures on FIB theory. - Lectures on FIB applications. - Practicals on FIB-SEM set-up, cross-beam alignment. - Practicals on site-specific cross-section and TEM lamellar preparation. - Lecture and demonstration on FIB automation. |
| Literatur | - Detailed course manual. - Giannuzzi, Stevie: Introduction to focused ion beams instrumentation, theory, techniques, and practice, Springer, 2005. - Orloff, Utlaut, Swanson: High resolution focused ion beams: FIB and its applications, Kluwer Academic/Plenum Publishers, 2003. |
| Voraussetzungen / Besonderes | The students should fulfil one or more of these prerequisites: - Prior attendance to the ScopeM Microscopy Training SEM I: Introduction to SEM (327-2125-00L). - Prior SEM experience. |
Leistungskontrolle
| Information zur Leistungskontrolle (gültig bis die Lerneinheit neu gelesen wird) | |
Leistungskontrolle als Semesterkurs | |
| ECTS Kreditpunkte | 1 KP |
| Prüfende | P. Zeng, A. G. Bittermann, S. Gerstl, L. Grafulha Morales, J. Reuteler |
| Form | unbenotete Semesterleistung |
| Prüfungssprache | Englisch |
| Repetition | Repetition nur nach erneuter Belegung der Lerneinheit möglich. |
| Zusatzinformation zum Prüfungsmodus | Student presentation and discussion during course. |
Lernmaterialien
| Keine öffentlichen Lernmaterialien verfügbar. | |
| Es werden nur die öffentlichen Lernmaterialien aufgeführt. |
Gruppen
| Keine Informationen zu Gruppen vorhanden. |
Einschränkungen
| Allgemein |  : Für Fachstudierende und Hörer/-innen ist eine Spezialbewilligung der Dozierenden notwendig |
| Plätze | Plätze beschränkt. Spezielles Auswahlverfahren. |
| Warteliste | Bis 30.08.2022 |
| Belegungsende | Belegung nur bis 16.05.2022 möglich |
Angeboten in
| Studiengang | Bereich | Typ | |
|---|---|---|---|
| Doktorat Maschinenbau und Verfahrenstechnik | Vertiefung Fachwissen | W |  |
| Doktorat Materialwissenschaft | Vertiefung Fachwissen | W | |
| Materialwissenschaft Master | Wahlfächer | W Dr | |