151-0628-00L  Scanning Probe Microscopy Lab

SemesterFrühjahrssemester 2019
DozierendeA. Stemmer
Periodizitätjährlich wiederkehrende Veranstaltung
LehrspracheEnglisch
KommentarLimited number of participants.
Please address your application to Andreas Stemmer (Link).

Simultaneous enrolment in 151-0622-00L Measuring on the Nanometer Scale is required.


Information zur Leistungskontrolle (gültig bis die Lerneinheit neu gelesen wird)
Leistungskontrolle als Semesterkurs
ECTS Kreditpunkte2 KP
PrüfendeA. Stemmer
Formbenotete Semesterleistung
PrüfungsspracheEnglisch
RepetitionRepetition ohne erneute Belegung der Lerneinheit möglich.
Zusatzinformation zum PrüfungsmodusCredit points can only be earned if the candidate
(i) actively takes part in the entire course,
(ii) turns in a final report, and
(iii) obtains at least grade 4. The grade reflects the performance of each participant and is based on (1) effort/
participation (30%), (2) skills shown during the course (30%), and (3) quality of the report (40%).