Nummer | Titel | ECTS | Umfang | Dozierende |
---|
327-0413-00L | Materials Characterization II | 4 KP | 4G | R. Erni,
S. Gerstl,
A. Hrabec,
S. S. Lee,
V. Scagnoli,
M. Trassin,
T. Weber,
P. Zeng |
327-2125-00L | Microscopy Training SEM I - Introduction to SEM | 2 KP | 3P | P. Zeng,
A. G. Bittermann,
S. Gerstl,
L. Grafulha Morales,
K. Kunze,
F. Lucas,
J. Reuteler |
327-2126-00L | Microscopy Training TEM I - Introduction to TEM | 2 KP | 3P | P. Zeng,
E. J. Barthazy Meier,
A. G. Bittermann,
F. Gramm,
A. Sologubenko |
327-2128-00L | High Resolution Transmission Electron Microscopy | 2 KP | 3G | A. Sologubenko,
R. Erni,
R. Schäublin,
P. Zeng |
327-2140-00L | Focused Ion Beam and Applications | 1 KP | 2P | P. Zeng,
A. G. Bittermann,
S. Gerstl,
L. Grafulha Morales,
J. Reuteler |
327-2144-00L | Microscopy Training Cryogenic Electron Microscopy Please register here: ( Link) | 1 KP | 2P | M. Peterek,
B. Qureshi,
E. J. Barthazy Meier,
S. Handschin,
M. S. Lucas-Droste,
P. Zeng |