Nummer | Titel | ECTS | Umfang | Dozierende |
---|
327-2125-00L | Microscopy Training SEM I - Introduction to SEM | 2 KP | 3P | P. Zeng,
A. G. Bittermann,
S. Gerstl,
L. Grafulha Morales,
K. Kunze,
J. Reuteler |
327-2126-00L | Microscopy Training TEM I - Introduction to TEM | 2 KP | 3P | P. Zeng,
E. J. Barthazy Meier,
A. G. Bittermann,
F. Gramm,
A. Sologubenko,
M. Willinger |
327-2129-00L | Analytical Electron Microscopy: EDS Limited number of participants. Registration form: ( Link) | 1 KP | 2P | P. Zeng,
L. Grafulha Morales,
K. Kunze,
A. Sologubenko |
327-2140-00L | Focused Ion Beam and Applications | 1 KP | 2P | P. Zeng,
A. G. Bittermann,
S. Gerstl,
L. Grafulha Morales,
J. Reuteler |
327-2144-00L | Microscopy Training Cryogenic Electron Microscopy | 1 KP | 2P | M. Peterek,
B. Qureshi,
E. J. Barthazy Meier,
S. Handschin,
M. S. Lucas-Droste,
P. Zeng |