Laura Heyderman: Katalogdaten im Herbstsemester 2019

NameFrau Prof. Dr. Laura Heyderman
NamensvariantenLaura J. Heyderman
L. J. Heyderman
Laura Heyderman
Laura Jane Heyderman
LehrgebietMesoskopische Systeme
Adresse
Professur Mesoskopische Systeme
ETH Zürich, HPP P 14.2
Hönggerbergring 64
8093 Zürich
SWITZERLAND
Telefon+41 44 633 08 40
E-Maillaura.heyderman@mat.ethz.ch
DepartementMaterialwissenschaft
BeziehungOrdentliche Professorin

NummerTitelECTSUmfangDozierende
327-0103-00LEinführung in die Materialwissenschaft3 KP3GM. Niederberger, L. Heyderman, N. Spencer, P. Uggowitzer
KurzbeschreibungGrundlegende Kenntnisse und Verständnis der atomistischen und makroskopischen Konzepte der Materialwissenschaft.
LernzielBasiswissen und Verständnis der atomistischen und makroskopischen Konzepte in der Materialwissenschaft.
InhaltInhalt:
Atomaufbau
Atombindung
Kristalline Struktur
Kristalldefekte
Thermodynamik und Phasendiagramme
Diffusion und Diffusionskontrollierte Prozesse
Mechanisches Verhalten
Elektrische, optische und magnetische Eigenschaften
Oberflächen
Alterung und Werkstoffversagen
LiteraturJames F. Shackelford
Introduction to Materials Science for Engineers
5th Ed., Prentice Hall, New Jersey, 2000
327-0504-00LMaterials Characterisation Methods Information 3 KP2V + 1UL. Heyderman
KurzbeschreibungDas Ziel der Lehrveranstaltung ist es, die Studierenden zu befähigen, die einer bestimmten Fragestellung entsprechenden optimalen Materialcharakterisierungsmethoden auszuwählen. Themenbereiche sind: Thermische Analyse (TD, TG, TM, DTA, DSC), Lichtmikroskopie, Beugungsmethoden (XRD, NRD, SAD), Elektronenmikroskopie (TEM, HRTEM, STEM, HAADF-STEM, SEM, ESEM, EFEM, EDX, EELS).
LernzielDas Ziel der Lehrveranstaltung ist es, die Studierenden zu befähigen, die der Fragestellung entsprechenden optimalen Materialcharakterisierungsmethoden auszuwählen.
InhaltEinführung in die Grundlagen der Materialcharakterisierung mit folgenden Themenbereichen: Thermische Analyse (TD, TG, TM, DTA, DSC), Lichtmikroskopie, Beugungsmethoden (XRD, NRD, SAD), Elektronenmikroskopie (TEM, HRTEM, STEM, HAADF-STEM, SEM, ESEM, EFEM, EDX, EELS). Der Schwerpunkt liegt auf der Diskussion der physikalischen Grundlagen der Charakterisierungsmethoden.
SkriptEin Skript steht zur Verfügung.
LiteraturMaterials Science and technology: A comprehensive treatment.
ed. by R. W. Cahn, P. Haasen, E.J. Kramer. VCH Weinheim 1992, 1994.
Volume 2
Characterization of Materials (Volume Editor E. Lifshin).