Konrad Schindler: Katalogdaten im Frühjahrssemester 2020

NameHerr Prof. Dr. Konrad Schindler
LehrgebietPhotogrammetrie
Adresse
I. f. Geodäsie u. Photogrammetrie
ETH Zürich, HIL D 42.3
Stefano-Franscini-Platz 5
8093 Zürich
SWITZERLAND
Telefon+41 44 633 30 04
E-Mailschindler@ethz.ch
URLhttps://igp.ethz.ch/personen/person-detail.html?persid=143986
DepartementBau, Umwelt und Geomatik
BeziehungOrdentlicher Professor

NummerTitelECTSUmfangDozierende
103-0254-AALPhotogrammetry
Belegung ist NUR erlaubt für MSc Studierende, die diese Lerneinheit als Auflagenfach verfügt haben.

Alle anderen Studierenden (u.a. auch Mobilitätsstudierende, Doktorierende) können diese Lerneinheit NICHT belegen.
6 KP13RK. Schindler
KurzbeschreibungThe class conveys the basics of photogrammetry. It shall equip students with basic knowledge of the principles, methods and applications of image-based measurement.
LernzielUnderstanding the principles, methods and possible applications of photogrammetry. The course also forms the basis for more in-depth studies and self-reliant photogrammetric project work in further photogrammetry courses.
InhaltFundamental concepts of photogrammetry, its products and applications: the principle of image-based measurement; digital aerial cameras and related sensors; projective geometry; mathematical modeling, calibration and orientation of cameras; photogrammetric 3D reconstruction and stereoscopy; digital photogrammetric workstations; recording geometry and flight planning
SkriptPhotogrammetry - Basics (slides on the web)
Exercise material (on the web)
Literatur- Kraus, K.: Photogrammetrie, Band 1: Geometrische Informationen aus Photographien und Laserscanneraufnahmen, mit Beiträgen von Peter Waldhäusl, Walter de Gruyter Verlag, Berlin, 7th edition
- Kraus, K.: Photogrammetrie, Band 2: Verfeinerte Methoden und Anwendungen, mit Beiträgen von J. Jansa und H. Kager, Walter de Gruyter Verlag, Berlin, 3rd edition
- Thomas Luhmann: Nahbereichsphotogrammetrie. Grundlagen, Methoden und Anwendungen, H. Wichmann Verlag, Karlsruhe, 2nd edition 2003
- Richard Hartley and Andrew Zisserman: Multiple View Geometry, Cambridge University Press; 2nd edition 2004
Voraussetzungen / BesonderesRequirements: knowledge of physics, linear algebra and analytical geometry, calculus, least-squares adjustment and statistics, basic programming skills.
103-0265-00LPhotogrammetrie II Information 2 KP2GK. Schindler, E. Baltsavias
KurzbeschreibungDie Veranstaltung vertieft und ergaenzt die Kenntnisse der Luftbild-Photogrammetrie aus der Lehrveranstaltung "Photogrammetrie".
LernzielDurchgehendes Verstaendnis und Durchfuehrung aller Schritte der photogrammetrischen Verarbeitungskette von der Flugplanung bis zur Orthophoto-Erzeugung und 3D Objektmodellierung.
InhaltAufbauend auf der Lehrveranstaltung "Photogrammetrie" werden in der Vorlesung die noch fehlenden Inhalte fuer das volle Verstaendnis der Luftbildphotogrammetrie vermittelt, insbesondere, die Buendelausgleichung, digitale Gelaendemodellierung und Laser-scanning.
LiteraturVorgeschlagene Textbuecher:
- Wolfgang Foerstner and Bernahrd Wrobel: Photogrammetric Computer Vision, Springer, 2016
- Thomas Luhmann: Nahbereichsphotogrammetrie. Grundlagen, Methoden, Beispiele, Wichmann Verlag, 4. Auflage 2018
- Richard Hartley and Andrew Zisserman: Multiple View Geometry, Cambridge University Press; 2. Auflage 2004
Voraussetzungen / BesonderesVoraussetzung fuer den Kurs ist die Grundlagenvorlesungen "Photogrammetrie", oder ein aequivalenter Kurs an anderen Departmenten oder Universitaeten. Studierende, die keinen entsprechenden Kurs besucht haben, kontaktieren bitte unbedingt die Dozierenden, bevor sie sich anmelden.
103-0798-00LGeodetic Project Course Belegung eingeschränkt - Details anzeigen
Findet dieses Semester nicht statt.
Number of participants limited to 24.
5 KP9PM. Rothacher, K. Schindler, A. Wieser
KurzbeschreibungDreiwöchige Arbeit an einem geodätischen Projekt mit Praxisbezug
LernzielDreiwöchige Arbeit an einem geodätischen Projekt mit Praxisbezug
InhaltGruppenweise, selbständige Bearbeitung aktueller Vermessungsprojekte und Erstellung eines Technischen Berichtes (Projektbeschreibung, Auswertung, Resultate und Interpretationen), Möglichkeit der Weiterführung in Diplom- oder Vertiefungsblockarbeiten.
Voraussetzungen / BesonderesDer dreiwöchige Kurs findet vom 10.-28. Juni statt. Die ersten beiden Wochen Feldarbeit, die 3. Woche Ausarbeitung in Zuerich.
103-0848-00LIndustrial Metrology and Machine Vision Belegung eingeschränkt - Details anzeigen
Number of participants limited to 30.
4 KP3GK. Schindler, A. Wieser
KurzbeschreibungThis course introduces contact and non-contact techniques for 3D coordinate, shape and motion determination as used for 3D inspection, dimensional control, reverse engineering, motion capture and similar industrial applications.
LernzielUnderstanding the physical basis of photographic sensors and imaging; familiarization with a broader view of image-based 3D geometry estimation beyond the classical photogrammetric approach; understanding the concepts of measurement traceability and uncertainty; acquiring an overview of general 3D image metrology including contact and non-contact techniques (coordinate measurement machines; optical tooling; laser-based high-precision instruments).
InhaltCCD and CMOS technology; structured light and active stereo; shading models, shape from shading and photometric stereo; shape from focus; laser interferometry, laser tracker, laser radar; contact and non-contact coordinate measurement machines; optical tooling; measurement traceability, measurement uncertainty, calibration of measurement systems; 3d surface representations; case studies.
SkriptLecture slides and further literature will be made available on the course webpage.
103-0849-00LMultivariate Statistik und Machine Learning Belegung eingeschränkt - Details anzeigen
Maximale Teilnehmerzahl: 40
4 KP4GK. Schindler
KurzbeschreibungEinfuehrung in statistische Modellierung und maschinelles Lernen.
LernzielZiel ist es, das Prinzip und die die Werkzeuge des maschinellen Lernens kennenzulernen, und sie zur Datenalalyse in praktischen Situationen anwenden zu koennen.
InhaltMultivariate Verteilungen; Vergleich von Wahrscheinlichkeitsverteilungen; Regression; Klassifizierung; Modellselektion und cross-validation; Clustering und Dichteschaetzung; mixture models; neuronale Netze
LiteraturC. Bishop: Pattern Recognition and Machine Learning, Springer 2006
T. Hastie, R. Tibshirani, J. Friedman, The Elements of Statistical Learning, Springer 2017
R. Duda, P. Hart, D. Stork: Pattern Classification, Wiley 2000
103-0851-00LPhotogrammetrie6 KP4GK. Schindler
KurzbeschreibungDie Veranstaltung vermittelt die Grundlagen der Photogrammetrie.
LernzielZiel ist ein detailliertes Verstaendnis der Prinzipien, Methoden und Anwendungen der bildbasierten 3D-Vermessung.
InhaltDie Grundlagen der Photogrammetrie und ihre Produkte und Anwendungen: das Prinzip der bildbasierten Vermessung; digitale Luftbildkameras und verwandte Sensoren; projektive Geometrie; mathematische Beschreibung, Kalibrierung und Orientierung von Kameras; photogrammetrische Triangulierung und Flaechenrekonstruktion; Orthophoto-Herstellung; Buendelausgleichung; Aufnahmegeometrie und Bildflugplanung; flugzeuggestuetztes Laser-Scanning
Literatur- Wolfgang Foerstner and Bernahrd Wrobel: Photogrammetric Computer Vision, Springer, 2016
- Thomas Luhmann: Nahbereichsphotogrammetrie. Grundlagen, Methoden, Beispiele, Wichmann Verlag, 4. Auflage 2018
- Richard Hartley and Andrew Zisserman: Multiple View Geometry, Cambridge University Press; 2. Auflage 2004